Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Contactarea ohmica a plachetelor de siliciu dublu dopate prin difuzie

Domenii publicaţii > Stiinte ingineresti + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: I. Lingvay and M. Scarlete

Editorial: Revista de Chimie, vol. 33, 6, p.959-670, 1982.

Rezumat:

We are presenting the results of experiments regarding the quality of electroless Ni layer, deposed on single crystalline silicon samples, double doped by thermal diffusion with B and P.

Cuvinte cheie: plachete de siliciu, dopare prin difuzie termica solid-solid, sticla borosilicioasa, nichelare // silicon samples, doping by thermal solid-solid diffusion, borosilicate glass, eletroless Ni plating