Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Spectroscopic Analysis and Semiconductor Properties of Amorphous Thin Films Containing Silicon-Carbon-Nitrogen Deposited via Polymeric Route

Domenii publicaţii > Chimie + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: M. Bercu, C. Aktik, J. Campbell, and M. Scarlete

Editorial: Spectroscopy Society of Canada, Canadian Journal of Applied Science and Spectroscopy, 48(1), p.77-85, 2003.

Rezumat:

Spectroscopic Analysis of Silicon-Based Ceramics via Polymer-Source Chemical vapor Deposition (PS-CVD)

Cuvinte cheie: stiinta materialelor, filme subtiri, spectroscopie // materials science, thin films, spectroscopy