Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Single Event Transients Characterization in SOI CMOS Comparators

Domenii publicaţii > Stiinte ingineresti + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: Bing Zhao,Adrian Leuciuc

Editorial: IEEE Trans. on Nuclear Science, 51, p.3360-3364, 2004.

Rezumat:

Cuvinte cheie: efecte ale radiatiilor in circuite analogice // radiation single event effects in analog circuits