Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Fractal Analysis of the Atomic Force Microscopy Images of Sulfide Covered Surfaces

Domenii publicaţii > Ştiinţe medicale + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: V. Lazarescu, G. Dobrescu, M.F. Lazarescu, C. Logofatu, B. Savu, G. Stanciu

Editorial: Scanning, 28, p.85-86, 2006.

Rezumat:

Cuvinte cheie: AFM, analiza-fractala, XPS, GaAs // AFM, Fractal-analysis, XPS, GaAs,