Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Effects of dimensional nanoscaling on the optical and electrical properties of crystalline Si thin films

Domenii publicaţii > Fizica + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: A. K. Sharma, P. C. Logofatu, C. S. Mayberry, S. R. J. Brueck and N. E. Islam

Editorial: Journal of Applied Physics, 101, 2007.

Rezumat:

Cuvinte cheie: dimensional nanoscaling, scatterometry