Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Ellipsometric analysis of mixed metal oxides thin films

Domenii publicaţii > Fizica + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: O. Buiu, W. Davey, Y. Lu, I.Z. Mitrovic, S. Hall

Editorial: Thin Solid Films, 517, 2008.

Rezumat:

Cuvinte cheie: thin films, microstructure, microelectronics