Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Extracting the relative dielectric constant for “high-κ layers” from CV measurements – Errors and error propagation

Domenii publicaţii > Stiinte ingineresti + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: O. Buiu, S. Hall, O. Engstrom, B. Raeissi, M. Lemme, P.K. Hurley, K. Cherkaoui

Editorial: Microelectronics Reliability,, 47, 2007.

Rezumat:

Cuvinte cheie: high k dielectrics, thin films, gate dielectric, measurement errors