Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Investigation of fullerene depth distribution in PMMA-C60 blends using dual beam ToF-SIMS

Domenii publicaţii > Fizica + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: 1. M. Py, J. P. Barnes, M. Charbonneau, R. Tiron, J. Buckley

Editorial: Surface and Interface Analysis, 43 (issue 1-2), p.179-182, 2010.

Rezumat:

Cuvinte cheie: organic electronics; dual beam ToF-SIMS; C60; PMMA; depth profile

URL: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.3534/full