Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

ARPXPS analysis of Silicon oxide films

Domenii publicaţii > Fizica + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: C.C.Negrila ,C..Cotarlan, F.Ungureanu, C.Logofatu, R.V.Ghita, M.F.Lazarescu

Editorial: J.Optoelectronics and Adv..Materials , 10(6), p.1379-1383, 2008.

Rezumat:

Cuvinte cheie: Analiza AR-XPS, filme subtiri, SiO // AR-XPS analysis, Silicon oxide films