Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Electrical Characterization of thiols self-assembled layers on GaP structures

Domenii publicaţii > Fizica + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã

Autori: R.V.Ghita, V.Lazarescu, C.Logofatu, C.C.Negrila, M.F.Lazarescu,

Editorial: Mater.Sci.Semicond.Processing - accepted, ref. MSSP-D-08-00021, in print, in print, 2009.

Rezumat:

Cuvinte cheie: GaP, SAM-uri de tioli, caracterizari electrice // GaP, thiols SAMs, electrical characterization