Scopul nostru este sprijinirea şi promovarea cercetării ştiinţifice şi facilitarea comunicării între cercetătorii români din întreaga lume.
Domenii publicaţii > Fizica + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã
Autori: C.C.Negrila ,C..Cotarlan, F.Ungureanu, C.Logofatu, R.V.Ghita, M.F.Lazarescu
Editorial: J.Optoelectronics and Adv..Materials , 10(6), p.1379-1383, 2008.
Rezumat:
Cuvinte cheie: Analiza AR-XPS, filme subtiri, SiO // AR-XPS analysis, Silicon oxide films