Scopul nostru este sprijinirea şi promovarea cercetării ştiinţifice şi facilitarea comunicării între cercetătorii români din întreaga lume.
Domenii publicaţii > Stiinte ingineresti + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã
Autori: O. Buiu, S. Hall, O. Engstrom, B. Raeissi, M. Lemme, P.K. Hurley, K. Cherkaoui
Editorial: Microelectronics Reliability,, 47, 2007.
Rezumat:
Cuvinte cheie: high k dielectrics, thin films, gate dielectric, measurement errors