Inscriere cercetatori

Premii Ad Astra

premii Ad Astra

Asociația Ad Astra a anunțat câștigătorii Premiilor Ad Astra 2022: http://premii.ad-astra.ro/. Proiectul și-a propus identificarea și popularizarea modelelor de succes, a rezultatelor excepționale ale cercetătorilor români din țară și din afara ei.

Asociatia Ad Astra a cercetatorilor romani lanseaza BAZA DE DATE A CERCETATORILOR ROMANI DIN DIASPORA. Scopul acestei baze de date este aceea de a stimula colaborarea dintre cercetatorii romani de peste hotare dar si cu cercetatorii din Romania. Cercetatorii care doresc sa fie nominalizati in aceasta baza de date sunt rugati sa trimita un email la cristian.presura@gmail.com

Marius Bazu

Avatar

Institutul National de Cercetare Dezvoltare in Microtehnologie, Bucuresti, .

E-mail: trimite un mesaj.

Pagina web a instituţiei: http://www.imt.ro

Nascut(a) in: 1948

Interese: semicodnuctoare, fiabilitate, microsisteme

flag Detalii:
Dr. Marius Bazu, Sef al Laboratorului de Fiabilitate din IMT-Bucharest, cu preocupari recente in fiabilitatea microsistemelor, si ingineria convergenta. Autor a doua carti publicate de Artech House (2009) si Springer Verlag (1999) si a peste 100 de articole si comunicari in reviste (IEEE Trans.on Reliability, Journal of Electrochem. Soc, Solid State Phenomena, etc.) si la conferintele importante de fiabilitate (Annual Reliability and Maintainability Symp., Probabilistic Safety Assessment and Management, ESREL, etc.). Lider al "cluster"-ului de Fiabilitate al NoE "Patent-DfMM" (proiect european PC6 /IST, 2004-2007) si referent al revistelor IEEE Transactions on Reliability, IEEE Transactions on Components and Packaging, IEEE Electron Device Letters, MIcroelectronics Reliability si Sensors.

flag Details:
Dr. Marius Bazu, Head of the Reliability Laboratory of IMT-Bucharest, with recent research interests in microsystem reliability and concurrent engineering. Author of two books published by Artech House (2009)and Springer Verlag (1999) and of more than 100 papers and contributions in journals (IEEE Trans.on Reliability, Journal of Electrochem. Soc, Solid State Phenomena, etc.) and to major reliability conferences (Annual Reliability and Maintainability Symp., Probabilistic Safety Assessment and Management, ESREL, etc.). Leader of the Reliability Cluster of NoE "Patent-DfMM" (European project FP6/IST, 2004-2007) and referent of the journals IEEE Transactions on Reliability, IEEE Transactions on Components and Packaging, IEEE Electron Device Letters, MIcroelectronics Reliability and Sensors.

Publicații selectate:

* Titu Bajenescu, Marius Bazu, Reliability Components for Electronic Systems, Artech House, 2009.

* Titu Bajenescu, Marius Bazu, Reliability of Electronic Components, Springer Verlag, 1999.