Scopul nostru este sprijinirea şi promovarea cercetării ştiinţifice şi facilitarea comunicării între cercetătorii români din întreaga lume.
Domenii publicaţii > Stiinte ingineresti + Tipuri publicaţii > Carte
Autori: Titu Bajenescu, Marius Bazu
Editorial: Springer Verlag, 1999.
Rezumat:
Cuvinte cheie: Fiabilitate, Defectare, Caracterizare, Testare, Semiconductor // Reliability, Failure, Characterisation, Testing, Semiconductors