Inscriere cercetatori

Site nou !

Daca nu va puteti recupera parola (sau aveti alte probleme), scrieti-ne la pagina de contact. Situl vechi se gaseste la adresa old.ad-astra.ro

Facebook

Reliability of Electronic Components

Domenii publicaţii > Stiinte ingineresti + Tipuri publicaţii > Carte

Autori: Titu Bajenescu, Marius Bazu

Editorial: Springer Verlag, 1999.

Rezumat:

Cuvinte cheie: Fiabilitate, Defectare, Caracterizare, Testare, Semiconductor // Reliability, Failure, Characterisation, Testing, Semiconductors