Scopul nostru este sprijinirea şi promovarea cercetării ştiinţifice şi facilitarea comunicării între cercetătorii români din întreaga lume.
Staff Login
Premii Ad Astra
Asociația Ad Astra a anunțat câștigătorii Premiilor Ad Astra 2022: http://premii.ad-astra.ro/. Proiectul și-a propus identificarea și popularizarea modelelor de succes, a rezultatelor excepționale ale cercetătorilor români din țară și din afara ei.
Observation of individual dopants in a thin silicon layer by low temperature Kelvin Probe Force Microscope
Domenii publicaţii > Fizica + Tipuri publicaţii > Articol în revistã ştiinţificã
Autori: *M. Ligowski, D. Moraru, M. Anwar, T. Mizuno, R. Jablonski, and M. Tabe
Editorial: Applied Physics Letters, 93, p.142101, 2008.
Rezumat:
Detection of individual dopants in the thin silicon layer using Kelvin Probe Force Microscopy is
presented. The analysis of the surface potential images taken at low temperatures (13 K) on n-type
and p-type samples reveals local potential fluctuations that can be attributed to single phosphorus
and boron atoms, respectively. Results are confirmed by simulation of surface potential induced by
dopants and by the back gate voltage dependence of the measured potential.
Cuvinte cheie: individual dopants, low-temperature KFM, potential profile
URL: http://apl.aip.org/resource/1/applab/v93/i14/p142101_s1